2023年4月26日，兆維集團攜手電子城高科成功舉辦“屏芯而論”CTO系列沙龍——第二期：半導體檢測、量測專場活動。

        此次活動聚焦半導體檢測、量測技術發(fā)展及在制造工藝中應用的技術挑戰(zhàn)，以及未來的技術發(fā)展方向開展技術交流，在電子城高科創(chuàng)E+黨支部書記、副總經理郭曉樂主持下開場，北京電控戰(zhàn)略發(fā)展部副總監(jiān)譚至晟，兆維集團黨委副書記、總裁田永軍及電子城高科創(chuàng)E+總經理馬文操出席活動并致辭。北京市國資委機械工業(yè)儀器儀表綜合技術經濟研究所及西安交通大學機械工程學院、北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司、北京燕東微電子科技有限公司、北京大華無線電儀器廠、北京諾華資本投資管理有限公司的有關領導、專家及五家從事半導體檢量測行業(yè)的企業(yè)相關負責人參加活動。

圖 | 北京電控戰(zhàn)略發(fā)展部副總監(jiān)譚至晟致辭

圖 | 兆維集團黨委副書記、總裁田永軍致辭

圖 | 電子城高科創(chuàng)E+總經理馬文操致辭

       活動中，機械工業(yè)儀器儀表綜合技術經濟研究所王春喜主任、西安交通大學機械工程學院楊樹明教授、兆維集團牛文豪博士、兆維智能裝備林濤博士分別就工業(yè)測控、半導體芯片量檢測、半導體檢測、基于顯示成像的顯示面板在線檢量測技術的國內外發(fā)展趨勢、技術路線、市場前景及政策支持等方面進行了分享，來自五家從事半導體檢量測行業(yè)的企業(yè)相關負責人也就各自研究領域及創(chuàng)新技術進行了詳細講解。與會嘉賓針對半導體檢測、量測領域相關技術難點、關鍵工藝及產業(yè)發(fā)展方向進行了充分的溝通交流。

圖 | 王春喜主任作《工業(yè)測控新技術發(fā)展及標準》的主題分享

圖 | 楊樹明教授作《半導體芯片量檢測技術及發(fā)展趨勢》的主題分享

圖 | 林濤博士作《基于顯微成像的顯示面板在線檢、量測技術》的主題分享

       長期以來，兆維檢測裝備平臺圍繞服務國家重大戰(zhàn)略和北京市“四個中心”功能建設，立足電控“構建以芯屏為核心的產業(yè)生態(tài)”戰(zhàn)略部署，扎實推進集團“二二一”核心戰(zhàn)略，瞄準定位，超前布局，圍繞光學檢測、量測技術，聚焦“卡脖子”核心技術突破，積極構建微米、納米級缺陷檢測和量測產品矩陣。借助此次活動的成功舉辦，兆維集團將進一步推動創(chuàng)新鏈與產業(yè)鏈深度融合，強化產業(yè)鏈上下游協(xié)同發(fā)展，全力打造國內領先的芯屏檢測裝備業(yè)務平臺，切實肩負起首都國企的使命與擔當，為北京電控“芯屏”產業(yè)的創(chuàng)新突破貢獻力量。